Abstract: With the FPGA size and complexity increasing，the test is very important.This paper describes the structure of the SRAM-based FPGA profiles and FPGA testing methods to Xilinx’s spartan3 series chip，for example，using the multi-detection logic cell（CLB） mixed-fault testing methods，elaborate on how to achieve on-line FPGA configuration，functions and parameters testing on the Automatic Test System（ATE）.A practical approach for the FPGA application-oriented test is provided.

Key words: Field Programmable Gate Array（FPGA）, multi-detection logic cell（CLB）, test, Automatic Test System（ATE）

摘要： 随着FPGA的规模和复杂性的增加，测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法，以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例，利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元（CLB）混合故障的测试方法，阐述了如何在自动测试系统（ATE）上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试，为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。

关键词: 现场可编程门阵列（FPGA）, 多逻辑单元（CLB）, 测试, 自动测试系统