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考虑逻辑门延时的冗余固定故障检测方法
蔡 烁1,2,文 翔1,童 伟1,欧阳翅1
Method to test redundant stuck-at faults considering logic gates’ delay
CAI Shuo1,2, WEN Xiang1, TONG Wei1, OUYANG Chi1
计算机工程与应用 . 2012, (
17
): 68 -71 .