计算机工程与应用 ›› 2012, Vol. 48 ›› Issue (17): 68-71.
蔡 烁1,2,文 翔1,童 伟1,欧阳翅1
CAI Shuo1,2, WEN Xiang1, TONG Wei1, OUYANG Chi1
摘要: 提出利用瞬态电流测试(IDDT Testing)方法检测数字电路中的冗余固定故障。检测时采用双向量模式,充分考虑逻辑门的延时特性。针对两类不同的冗余固定故障,分别给出了激活故障的算法,在此基础上再对故障效应进行传播。SPICE模拟实验结果表明,该方法能有效地区分正常电路与存在冗余故障的电路,可以作为电压测试方法的一种有益的补充。