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集成电路刻蚀效果三维显示及其关键技术研究
吴永亮,万旺根,崔 滨
3D display for integrate circuit etching result and key technology research
WU Yong-liang,WAN Wang-gen,CUI Bin
计算机工程与应用 . 2009, (
23
): 214 -216 . DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2009.23.061