计算机工程与应用 ›› 2012, Vol. 48 ›› Issue (9): 60-62.
郭凤鸣1,2,何怡刚2,杨 海1,2
GUO Fengming1,2, HE Yigang2, YANG Hai1,2
摘要: 随着RFID技术应用领域的增加,RFID系统性能的评估也日趋重要。为了评估RFID技术在衰落信道下的性能,分析了RFID系统中的调制与编码技术,通过分析反向散射调制的误码率,导出了Nakagami-m衰落信道下标签的错误率,给出了不同信道衰落参数和编码参数下的数值仿真结果。结果表明,衰落参数越大,重复编码次数越多,标签错误率越低。