计算机工程与应用 ›› 2011, Vol. 47 ›› Issue (20): 178-180.

• 图形、图像、模式识别 • 上一篇    下一篇

基于形态学处理的太阳能晶片计数研究

方 超,谭 伟,杜建洪   

  1. 复旦大学 信息科学与工程学院通信科学与工程系,上海 200433
  • 收稿日期:1900-01-01 修回日期:1900-01-01 出版日期:2011-07-11 发布日期:2011-07-11

Study on solar energy wafer counting based on morphology processing

FANG Chao,TAN Wei,DU Jianhong   

  1. School of Information Science and Engineering,Fudan University,Shanghai 200433,China
  • Received:1900-01-01 Revised:1900-01-01 Online:2011-07-11 Published:2011-07-11

摘要: 针对工业生产中太阳能晶片人工计数的难以实施,提出了运用数字图像处理技术的自动计数方法。通过对晶片叠层图像的纹理分析,提出了一种二值化计数方法,通过对二值图像的特殊的形态学处理后,得到一幅便于计数的图像。实验结果表明该算法有较高的计数精度,而且算法简单可行,具有实用价值。

关键词: 纹理特征, 形态学处理, 膨胀腐蚀, 二值化

Abstract: This article presents an automatic counting method using digital image processing to solve difficulties in manual Solar Energy Wafer(SEW) counting in the industry.By analyzing the texture,a morphology processing counting method is proposed.Experimental result shows that the algorithm is simple and feasible.

Key words: textural property, morphology processing, dilation and erosion, binarization