面向系统芯片测试的微处理器结构设计

doi:10.3778/j.issn.1002-8331.2009.13.024

计算机工程与应用 ›› 2009, Vol. 45 ›› Issue (13): 81-83.DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2009.13.024

面向系统芯片测试的微处理器结构设计

王党辉

西北工业大学计算机学院，西安 710072

收稿日期:2008-03-18 修回日期:2008-04-28 出版日期:2009-05-01 发布日期:2009-05-01
通讯作者: 王党辉

Microprocessor design for system-on-a-chip testing

WANG Dang-hui

Computer College，Northwestern Polytechnical University，Xi’an 710072，China

Received:2008-03-18 Revised:2008-04-28 Online:2009-05-01 Published:2009-05-01
Contact: WANG Dang-hui

摘要/Abstract

摘要： 采用内嵌微处理器作为测试控制器来测试系统芯片可以提高测试精度和速度，降低测试成本。提出在微处理器结构上做改进，设计了测试数据接口和测试数据解压单元，可以对SOC测试起支持作用。实验结果表明所增加的硬件在电路面积上可接受，对电路性能没有影响，而且对微处理器的正常功能没有任何影响。

关键词: 系统芯片, 测试, 微处理器, 结构

Abstract: To improve the quality of system-on-a-chip testing，embedded microprocessor can be used as testing controller.In order to support this testing methodology，the architecture of microprocessor embedded in system-on-a-chip is designed，including the design of test data transfer interface and test data decompress unit.The experiment show that it can do the test correctly on the cost of acceptable area overhead and none performance overhead.

Key words: system-on-a-chip, testing, microprocessor, architecture

王党辉. 面向系统芯片测试的微处理器结构设计[J]. 计算机工程与应用, 2009, 45(13): 81-83.

WANG Dang-hui. Microprocessor design for system-on-a-chip testing[J]. Computer Engineering and Applications, 2009, 45(13): 81-83.

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Microprocessor design for system-on-a-chip testing

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