使用免疫克隆选择机理的故障检测器优化

doi:10.3778/j.issn.1002-8331.2008.36.019

计算机工程与应用 ›› 2008, Vol. 44 ›› Issue (36): 70-72.DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2008.36.019

使用免疫克隆选择机理的故障检测器优化

陈强¹,李湘萍²

1.江西理工大学机电工程学院，江西赣州 341000
2.江西理工大学继续教育学院，江西赣州 341000

收稿日期:2008-06-24 修回日期:2008-10-27 出版日期:2008-12-21 发布日期:2008-12-21
通讯作者: 陈强

Optimization for fault detectors using immune clone selection

CHEN Qiang¹,LI Xiang-ping²

1.School of Mechanical and Electrical Engineering，Jiangxi University of Science and Technology，Ganzhou，Jiangxi 341000，China
2.School of Continue Education，Jiangxi University of Science and Technology，Ganzhou，Jiangxi 341000，China

Received:2008-06-24 Revised:2008-10-27 Online:2008-12-21 Published:2008-12-21
Contact: CHEN Qiang

摘要/Abstract

摘要： 免疫算法产生的检测器集中，存在集合边界不清晰和个体分布不均匀的缺点。提出了一个免疫克隆选择检测器优化算法。通过对原检测器中个体的抗体克隆、变异和克隆选择操作，实现对检测器分布状况的优化。与其他免疫优化算法的对比仿真结果表明其不但具有较快的收敛速度和较好的稳定性，而且优化效果更为令人满意。

陈强¹,李湘萍². 使用免疫克隆选择机理的故障检测器优化[J]. 计算机工程与应用, 2008, 44(36): 70-72.

CHEN Qiang¹,LI Xiang-ping². Optimization for fault detectors using immune clone selection[J]. Computer Engineering and Applications, 2008, 44(36): 70-72.

使用免疫克隆选择机理的故障检测器优化

Optimization for fault detectors using immune clone selection

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