基于MapReduce的液晶屏缺陷检测方法

基于MapReduce的液晶屏缺陷检测方法

夏晓云，张仁斌，谢瑞，王聪

MapReduce approach for defect inspection of TFT-LCD

XIA Xiaoyun, ZHANG Renbin, XIE Rui, WANG Cong

计算机工程与应用 . 2017, (5): 202 -206 . DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.1507-0286