深亚微米SoC芯片的可测试性设计

深亚微米SoC芯片的可测试性设计

胡剑,沈绪榜,王涛

Design for testability of deep sub-micro SoC chip

HU Jian,SHEN Xu-bang,WANG Tao

计算机工程与应用 . 2008, (23): 88 -92 . DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2008.23.028