FPGA测试技术及ATE实现

计算机工程与应用 ›› 2011, Vol. 47 ›› Issue (6): 65-67.

FPGA测试技术及ATE实现

龙祖利¹，王子云²

1.西南科技大学，四川绵阳 621010
2.中国工程物理研究院电子工程研究所，四川绵阳 621900

收稿日期:1900-01-01 修回日期:1900-01-01 出版日期:2011-02-21 发布日期:2011-02-21

FPGA testing technology and ATE to achieve

LONG Zuli¹，WANG Ziyun²

1.Southwest University of Science &Technology，Mianyang，Sichuan 621010，China
2.Institute of Electronic Engineering of CAEP，Mianyang，Sichuan 621900，China

Received:1900-01-01 Revised:1900-01-01 Online:2011-02-21 Published:2011-02-21

摘要/Abstract

摘要： 随着FPGA的规模和复杂性的增加，测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法，以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例，利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元（CLB）混合故障的测试方法，阐述了如何在自动测试系统（ATE）上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试，为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。

关键词: 现场可编程门阵列（FPGA）, 多逻辑单元（CLB）, 测试, 自动测试系统

Abstract: With the FPGA size and complexity increasing，the test is very important.This paper describes the structure of the SRAM-based FPGA profiles and FPGA testing methods to Xilinx’s spartan3 series chip，for example，using the multi-detection logic cell（CLB） mixed-fault testing methods，elaborate on how to achieve on-line FPGA configuration，functions and parameters testing on the Automatic Test System（ATE）.A practical approach for the FPGA application-oriented test is provided.

Key words: Field Programmable Gate Array（FPGA）, multi-detection logic cell（CLB）, test, Automatic Test System（ATE）

龙祖利¹，王子云². FPGA测试技术及ATE实现[J]. 计算机工程与应用, 2011, 47(6): 65-67.

LONG Zuli¹，WANG Ziyun². FPGA testing technology and ATE to achieve[J]. Computer Engineering and Applications, 2011, 47(6): 65-67.

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