基于局部熵的CMOS摄像头疵点检测

doi:10.3778/j.issn.1002-8331.2009.20.022

计算机工程与应用 ›› 2009, Vol. 45 ›› Issue (20): 71-73.DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2009.20.022

基于局部熵的CMOS摄像头疵点检测

沈雅芬，刘纯平，王朝晖

苏州大学计算机科学与技术学院，江苏苏州 215006

收稿日期:2008-06-03 修回日期:2008-08-21 出版日期:2009-07-11 发布日期:2009-07-11
通讯作者: 沈雅芬

efect detection of CMOS camera based on local entropy

SHEN Ya-fen，LIU Chun-ping，WANG Zhao-hui

School of Computer Science and Technology，Soochow University，Suzhou，Jiangsu 215006，China

Received:2008-06-03 Revised:2008-08-21 Online:2009-07-11 Published:2009-07-11
Contact: SHEN Ya-fen

摘要/Abstract

摘要： 在CMOS摄像头数字图像性能检测系统中，疵点检测是关键内容。基于局部熵，提出了基于局部熵的CMOS摄像头疵点检测方法。与原有的摄像头疵点检测方法进行比较，局部熵方法是一种自适应的疵点检测方法。实验结果表明，该方法能够准确、有效地检测到摄像头的疵点。

关键词: 局部熵, 数字图像, 疵点检测

Abstract: In the digital image performance testing system of CMOS camera，defect detection is crucial.This paper proposes a defect detection of CMOS camera based on local entropy.Compared to the former method of defect detection on the camera，the local entropy method is adaptive.Experimental results have shown that the proposed method is accurate and efficient for detecting defect on the camera.

Key words: local entropy, digital image, defect detection

沈雅芬，刘纯平，王朝晖. 基于局部熵的CMOS摄像头疵点检测
[J]. 计算机工程与应用, 2009, 45(20): 71-73.

SHEN Ya-fen，LIU Chun-ping，WANG Zhao-hui. efect detection of CMOS camera based on local entropy[J]. Computer Engineering and Applications, 2009, 45(20): 71-73.

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efect detection of CMOS camera based on local entropy

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