计算机工程与应用 ›› 2009, Vol. 45 ›› Issue (19): 62-65.DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2009.19.018
颜学龙1,梁晓琳1,尚玉玲1,2
YAN Xue-long1,LIANG Xiao-lin1,SHANG Yu-ling1,2
摘要: 随着深亚微米技术,串扰噪声问题越来越严重。利用MAF模型的基本思想,探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量。对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试。在标准电路ISCAS’85上进行实验验证,结果表明:该算法对于多攻击线的串扰时延故障的测试矢量产生是有效的。