计算机工程与应用 ›› 2010, Vol. 46 ›› Issue (15): 60-63.DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2010.15.019
赵建武,师奕兵,王志刚
ZHAO Jian-wu,SHI Yi-bing,WANG Zhi-gang
摘要: 测试规划是SoC芯片测试中需要解决的一个重要问题。一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的测试规划方法被用于限制测试模式下SoC芯片功耗不超出最大芯片功耗范围,消除测试资源共享所引起的冲突,达到减小测试时间的目的。提出了支持测试规划的无拥塞路由算法和测试扫描链优化配置方法。使用VHDL硬件描述语言实现了在FPGA芯片中可综合的二维Mesh片上网络测试平台,用于片上网络性能参数、路由算法以及基于片上网络的SoC芯片测试方法的分析评估。
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